STEMによる微小粒子（透過像）の受託観察 | イビデンエンジニアリング

A-0002

微小粒子の形態観察(透過像)

走査透過型電子顕微鏡(STEM)

粉末試料をより高感度に観察するための1つの手段として、マイクログリッド法があります。当社では、サンプルに応じた適切な前処理を施し、観察させていただきます。

■外観写真・分析概要
TiO₂粉末を溶媒で分散させ、マイクログリッドを貼り付けたメッシュ上に滴下して、乾燥させた後、走査透過型電子顕微鏡(STEM)で形態観察を行いました。


Fig.1 TiO₂粉末	Fig.2 マイクログリッドメッシュ

■分析結果

Fig.3 観察箇所1拡大写真(100,000倍)	Fig.4 観察箇所1拡大写真(400,000倍)

本観察に供したTiO₂粉末は、小孔や突起物などがない球体で300nm前後の大きさであることがわかります。

■用途例
◆電子基板、セラミック、樹脂、金属

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