触媒及びAshに含まれる含有元素受託分析 | イビデンエンジニアリング

C-0004

触媒及びAshに含まれる含有元素分析

波長分散型蛍光Ｘ線分析法(XRF-WDX)

波長分散型蛍光X線分析による含有元素の定性及び半定量を行うことで、触媒や触媒に含まれるアッシュの含有元素のおおよその量を確認することができます。

■外観写真・分析概要

Fig.1試料外観

採取したアッシュに対して、バインダーを用いてプレス成型を行い、試料ホルダーにセットして、蛍光X線分析を行いました。

Fig.2 測定前処理

■分析結果
<触媒分析結果> 蛍光Ｘ線の分析結果から、タングステン系SCR触媒であることが分かりました。 <アッシュ分析結果> 　蛍光Ｘ線の分析結果から、アッシュには、Al、Si、S、Ca、Ti、Feなどが含まれていることが確認されました。

Table1 触媒のSQX分析結果

Fig.3 触媒の定性分析チャート

Table1 アッシュのSQX分析結果

Fig.4 アッシュの定性分析チャート

⇒触媒に付着しているアッシュにはひ素など、燃料由来の重金属が含まれる場合があります。このような場合、廃棄物として排出する際は下記の対応を実施する必要があります。
(1)環境庁告示13号溶出試験による特別管理産業廃棄物か否かの判定 (2)特別管理産業廃棄物に該当する場合は、許可保有している産業廃棄物業者に処理委託を相談、委託契約を締結 (3)県外に搬出する場合は、搬入自治体の条例に基づき、産廃事前協議書を提出する
※当社では溶出試験を実施し、産業廃棄物業者や自治体に提出する必要がある分析結果報告書作成を承っております。ぜひお気軽にお問合せください。
関係法令：廃棄物の処理及び清掃に関する法律　12条　　　　：環境庁告示13号　産業廃棄物に含まれる金属等の検定方法リンク先：https://www.ibieng.co.jp/analysis-solution/categorys/kankyou/sanpai/

■用途例
◆触媒の元素分析、セラミックの元素分析、ススの元素分析等
■Q&A
Ｑ１：SQX分析法とは何ですか？Ａ１：SQX(Scan Quant X)分析は定性分析で検出された成分について、標準試料を用いずに半定量値を算出するFP(ファンダメンタルパラメター)法を用いた分析プログラムです。Ｑ２：試料の状態・形状に制約はありますか？Ａ２：固体に対応可能です。多少のガス・水分は問題ありませんが、液体試料は対応不可です。Ｑ３：分析にはどのぐらいの試料量が必要ですか？Ａ３：1 ｇ以上必要ですが、それ以下でも対応可能な場合がありますのでご相談ください。Ｑ４：バインダーなしでプレス成型は可能ですか？Ａ４：試料により可能な場合がありますのでご相談ください。Ｑ５：定量下限はどれぐらいですか？Ａ５：元素によりますが、0.01％から0.1 %程度が定量下限となります。Ｑ６：測定できない元素はありますか？Ａ６：RhをX線の発生源に用いていますのでRhは測定できません。また、Rhに近い元素も測定できない元素があります。詳細は、X-0006 波長分散型蛍光X線分析法の原理の<XRF-WDX測定対象元素>をご参照ください。Ｑ７：軽元素の分析は可能ですか？Ａ７：軽元素分析用の分光結晶を用いることで、BからUの元素の検出が可能です。ただし、バインダー(成分はCとO)を用いた場合は、CとOは定量対象外となります。Ｑ８：波長分散型蛍光Ｘ線分析より定量精度の高い分析は可能ですか？Ａ８：湿式分析（ICP-AES・ICP-MS等）にて対応しております。

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