分析ジャンル別
評価・計測・信頼性試験
環境分析
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●表面分析は、固体表面の観察、元素分析あるいは構造分析を行うことを指しますが、一言で表面分析といっても、観察したいサンプルのサイズ(拡大倍率)、対象とする深さ方向等の条件により、使用する分析設備は異なってきます。 |
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●材料表面から内部への評価には、断面分析が用いられます。コンポジット材料や機能性付与を目的として意図的に表面を加工・処理したものの断面を分析することで、母材との接合面の状態や、元素の分布状態、化学状態がわかります。 | |
●極表面(100nm) | |
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表面分析法比較事例 |
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SiC表面の酸化膜厚測定(TEM) |
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銅パターンの表面および深さ方向分析(AES) |
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銅パターンの表面分析(TOF-SIMS) |
●表面(1um)および断面 | |
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基板に付着した異物(FT-IR) |
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樹脂・ゴムの劣化分析(FT-IR) |
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多層フィルムの観察と材料評価(FT-IR) |
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炭素材料評価(ラマン分光法) |
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電子基板の平面研磨 |
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電子部品・はんだの観察 |
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石材の変色原因調査(SEM-EDX) |
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金属の変色調査(SEM-EDX) |
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岩石の組成マッピング分析(FE-EPMA) |
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FT-IRによる多層フィルムの断面解析 |
●極表面(100nm) | |
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鱗の観察による魚齢の推定 |
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金属顕微鏡によるはんだの観察 |
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基板銅層断面の結晶粒の観察(FIB-SIM) |
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微小粒子の形態観察(FE-SEM) |
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電子基板の観察(FIB-STEM) |
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微小粒子観察(STEM) |
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各種紙製品の表面観察(SEM-EDX) |
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お問合せフォームより、お気軽にお問合せください。 サンプルの情報(成分、サイズ)と調べたいこと(対象部位、成分分析の有無、分析の目的)等可能な限りご記入ください。 |
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弊社営業担当より、折り返し内容の確認のお電話をさしあげます。 | ||||||
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サンプルを下記住所までご送付ください。なお、サンプルはビニ-ル袋ではなく、アルミホイルに包んでご送付お願いします
〒503-0973 |
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弊社にてサンプルを確認させていただき、御見積書をメール、FAXまたは郵送で お送りします。 ※ここまでの調査は費用は発生しません。 ※分析業務にあたっては御見積書記載内容及び イビデンエンジニアリング(株)約款 に基づきまして、対応させていただきます。 |
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依頼書を下記よりダウンロードいただき、ご送付ください。
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様式-17応用分析仕様書 | |||||||
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依頼書のご送付を持ちまして、分析を着手いたします。 | ||||||
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分析結果の報告書を郵送にてお送りいたします。 ご希望いただければメール、FAXで事前にご送付いたします。 |
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