石綿(アスベスト)調査、信頼性試験､土壌分析はイビデンエンジニアリングへ

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身の回りに使用されているシリコーン製品から発生する低分子環状シロキサンは、電子部品の接点不良の原因となるため、部品から発生する量や大気中の濃度を把握する必要があります。

Fig.1 電気接点障害のイメージ図

【測定対象シロキサン】　(測定対象はご相談下さい)

環状シロキサン3量体10量体　(D3D10)
環状シロキサン3量体20量体　(D3D20)

■低分子シロキサンとは

◆珪素と酸素を骨格とする化合物で、Si-O-Si結合 (シロキサン結合) を持つ化合物の総称
◆低分子シロキサンとは、重合した分子数が20個までのもので、鎖状と環状のものがある
◆沸点は高いが、ガス化しやすい

Fig.2　D4：環状シロキサン4量 (オクタメチルシクロテトラシロキサン)

■分析メニュー

1. 製品・部品中に含まれるシロキサンの定量

　使用する製品・部品に含まれるシロキサンの含有量を定量します。

※合わせて接点不良個所の観察・解析サービスも行っております。

Fig.3　溶媒抽出

2. 環境空気中に含まれるシロキサンの定量

製品を使用している環境、作業現場、装置内部、制御盤内部など、環境空気中のシロキサン濃度を測定します。

Fig.4　捕集管による捕集

3. 排ガス中に含まれるシロキサンの定量

下水処理場の消化槽 (嫌気発酵槽) の消化ガスなど、ガス中のシロキサンを定量します。

Fig.5　サンプリングバッグによる捕集

4. 製品・材料から発生するシロキサンの定量

製品・材料から発生するシロキサンの量を、ご指定の温度で測定します。
温度による発生量の変化を把握できます。

Fig.6　加熱脱着法

Fig.7　ヘッドスペース法

※チャンバー法による前処理も対応致しますので、ご相談下さい

Fig.8　シリコーンゴム加熱時発生ガスのGC-MS測定例　ガスクロマトグラム(TIC)

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■シロキサンサンプル採取方法

　お客様自身でも採取可能です。
ご要望に応じた採取キットを弊社よりお送りいたします。