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F-0005
表面分析による部品の劣化原因調査
走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分光法(SEM/EDX)
化学的な原因による劣化の可能性の有無を、表面分析を行うことによって、調べることができます。今回はSEM-EDXを用いて表面分析を行い、その原因を突き止めることにしました。
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酸やアルカリなどが暴露することによって劣化する。
物理的な原因による劣化
強い力が加わり、破断・劣化する。
化学的な原因による劣化の可能性の有無を、表面分析を行うことによって、調べることができます。今回はSEM-EDXを用いて表面分析を行い、その原因を突き止めることにしました。
出して、断面の元素分析(マッピング分析)を行い
ました。