分析の原理 | イビデンエンジニアリング

ジャンル	評価分類	装置名
表面分析断面分析	精密加工	CP､FIB､ミクロトーム､物理研磨
	観察前処理	オスミウムコート、プラチナコート、カーボンコート
	観察	SEM、FE-SEM、STEM、偏光顕微鏡、デジタル顕微鏡
	元素分析	SEM(EDX)、FE-SEM(EDX)、FE-EPMA、 STEM(EDX)、オージェ、レーザーICP/MS
	化合物分析	FT-IR、レーザーラマン、XRD、XPS(ESCA)、TOF-SIMS
	最表面分析	XPS(ESCA)、オージェ、TOF-SIMS
異物コンタミ	精密処理	ミクロトーム、マイクロサンプリング
	観察	SEM、FE-SEM、デジタル顕微鏡
	元素分析	SEM(EDX)、FE-SEM(EDX)、FE-EPMA、XPS(ESCA)、オージェ
	有機化合物分析	FT-IR、レーザーラマン、TOF-SIMS
	無機化合物分析	XRD、レーザーラマン、XPS(ESCA)、オージェ
微量成分分析	元素分析	XRF(WDX)、FE-EPMA、ICP-MS、レーザーICP/MS
	イオン分析	IC
	有機化合物分析	GC-MS、HS-GC/MS、加熱脱着GC/MS、熱分解GC/MS、LC/MS/MS（要相談）
	有機物量､水分量	TOC計、全炭素分析装置、カールフィッシャー水分計
	最表面分析	TOF-SIMS
加熱発生ガス分析	ガス発生量VS温度	TG-DTA、EGA/MS
	有機化合物ガス	GC/MS、HS-GC/MS、加熱脱着GC/MS、熱分解GC/MS、HPLC
	無機ガス、硫黄化合物ガス	GC/TCD、GC/FPD、GC/ECD
	イオン分析	IC、CE
組成分析構造解析	前処理	凍結乾燥、凍結粉砕、マイクロウェーブ分解、ソックスレー抽出、ビードサンプラー
	観察	SEM、FE-SEM、STEM、偏光顕微鏡、デジタル顕微鏡
	固体元素分析	SEM(EDX)、FE-SEM(EDX)、FE-EPMA、 STEM(EDX)、XPS(ESCA)、オージェ、 XRF(WDX)、XRF(EDX)、レーザーICP/MS
	液体元素分析	ICP-AES、ICP-MS、原子吸光分析計
	熱分析	TG-DTA、DSC、TMA、熱分解GC/MS
	有機化合物分析	FT-IR、レーザーラマン、TOF-SIMS、NMR
	無機化合物分析	XRD、レーザーラマン、XPS(ESCA)、オージェ
	イオン分析	IC、CE、吸光光度計
	有機物量、水分量、硫黄・塩素量	TOC計、全炭素分析装置、カールフィッシャー水分計、硫黄・塩素分析装置
	粉体測定	BET比表面積、粒度分布、ゼーター電位（要相談）
腐食・劣化	観察	SEM、FE-SEM、STEM、偏光顕微鏡、デジタル顕微鏡
	元素分析	SEM(EDX)、FE-SEM(EDX)、FE-EPMA、XPS(ESCA)、オージェ
	熱分析	TG-DTA、DSC、TMA、熱分解GC/MS
	有機化合物分析	FT-IR、レーザーラマン、熱分解GC/MS、 HPLC(GPC)、NMR、TOF-SIMS
	無機化合物分析	XRD、レーザーラマン、XPS(ESCA)、オージェ
	イオン分析	IC、CE

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