S-0010

鉱物種の同定解析

蛍光X線分析法(XRF-WDX)・X線回折法(XRD)

　蛍光X線分析法及びX線回折法により、土壌や鉱物の元素情報・鉱物種情報を得ることで、材料の特徴を推測することができます。また、鉱物種までの詳細な情報により、製品の小さな異物や付着物が何に由来するかの推察が可能です。

 

■外観写真・分析概要

土壌試料のイメージ写真

Fig.1　土壌試料 (例)

 

■分析結果

　蛍光X線の分析結果から、主成分はCa、Si、であることが分かりました。また、Al、S、K、Fe、なども検出されました(Fig.2)。X線回折の分析結果から、珪酸カルシウム、長石が検出されました。

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Fig.2 蛍光X線元素分析チャート Fig.3 X線回折化合物分析結果　

※ライブラリーにない物質 (鉱物種) もあります。ご相談ください。

 

■用途例

汚泥、スケール、配管付着物、析出物、結晶

 

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